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IEC 60083 AMD 1-1979 第1次修改

作者:标准资料网 时间:2024-05-28 14:21:05  浏览:8665   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Plugsandsocket-outletsfordomesticandsimilargeneraluse.Standards
【原文标准名称】:第1次修改
【标准号】:IEC60083AMD1-1979
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:1979
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC23
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电力设备;家用;电气工程;插头;插座
【英文主题词】:plugs;householduse;electricalengineering;electricsockets;electricalinstallations
【摘要】:
【中国标准分类号】:K30
【国际标准分类号】:1900;1910
【页数】:
【正文语种】:英语


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基本信息
标准名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压
英文名称:Semiconductor devices―Mechanical and climatic test methods―Part 2: Low air pressure
中标分类: 电子元器件与信息技术 >> 半导体分立器件 >> 半导体分立器件综合
ICS分类: 电子学 >> 半导体器件
替代情况:替代GB/T 4937-1995
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2006-08-23
实施日期:2007-02-01
首发日期:1985-02-06
作废日期:
主管部门:信息产业部(电子)
提出单位:中华人民共和国信息产业部
归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会
起草单位:中国电子科技集团公司第十三研究所
起草人:崔波、陈海蓉
出版社:中国标准出版社
出版日期:2007-02-01
页数:6页
计划单号:20030193-T-339
适用范围

本部分适用于半导体器件的低气压试验。本项试验的目的是测定器件和材料避免电击穿失效的能力,而这种失效是由于气压减小时,空气和其他绝缘材料的绝缘强度减弱所造成的。本项试验仅适用于工作电压超过1000V的器件。本项试验适用于所有的空封半导体器件。本试验仅适用于军事和空间领域。本项低气压试验方法和IEC60068-2-13大体上一致,但鉴于半导体器件的特殊要求,使用本标准条款。

前言

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目录

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引用标准

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所属分类: 电子元器件与信息技术 半导体分立器件 半导体分立器件综合 电子学 半导体器件
基本信息
标准名称:增雨防雹火箭弹生产安全技术条件
英文名称:Technical specification of safety production of anti-hail and rain-enhancement rocket
中标分类: 化工 >> 其他化工产品 >> 火工产品
ICS分类: 化工技术 >> 化工产品 >> 爆炸物、烟火
发布部门:中华人民共和国工业和信息化部
发布日期:2010-11-22
实施日期:2011-03-01
首发日期:
作废日期:
归口单位:工业和信息化部民爆器材标标准化技术委员
起草单位:兵器工业安全技术研究所;陕西中天火箭技术有限责任公司;江西新余国泰特种化工有限责任公司等
出版社:中国兵器标准化所
出版日期:2011-03-01
适用范围

本标准规定了增雨防雹火箭弹生产、贮存、运输和销毁的安全技术要求。

前言

没有内容

目录

没有内容

引用标准

没有内容

所属分类: 化工 其他化工产品 火工产品 化工技术 化工产品 爆炸物 烟火

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